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IEC 60749-11:2002-04

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 11: Rascher Temperaturwechsel; Zweibäderverfahren

Englischer Titel
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature; Two-fluid-bath method
Ausgabedatum
2002-04
Originalsprachen
Englisch, Französisch
Seiten
13
Ausgabedatum
2002-04
Originalsprachen
Englisch, Französisch
Seiten
13

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Dieser Artikel wurde geändert durch: IEC 60749-11 Corrigendum 1:2003-01,IEC 60749-11 Corrigendum 2:2003-08

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