IEC 60749-11:2002-04

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 11: Rascher Temperaturwechsel; Zweibäderverfahren

Englischer Titel: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature; Two-fluid-bath method
Ausgabedatum: 2002-04
Originalsprachen: Englisch, Französisch
Seiten: 13

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