IEC 60747-14-1:2010-01

Die zweite Ausgabe, 2010, der in Englisch und Französisch vorliegenden Norm IEC 60747-14-1 ersetzt die erste Ausgabe aus dem Jahr 2000. Sie stellt den einleitenden Teil 1 der Reihe IEC 60747-14 über "Halbleitersensoren" innerhalb der insgesamt 16 Normen beziehungsweise Normenreihen umfassenden Reihe IEC 60747 über "Halbleiterbauelemente" dar. Nach Annahme des Schlussentwurfs (FDIS) wurde sie entsprechend den Regularien der IEC als Internationale Norm veröffentlicht.

Die Norm definiert allgemeine Begriffe und Verfahren zur Spezifikation von Sensoren, hauptsächlich, jedoch nicht ausschließlich, auf der Basis von Halbleitermaterialien, die in den bisher erschienenen anderen Teilen der Normenreihe IEC 60747 verwendet werden:

• Teil 14-2: "Halbleitersensoren - Hall-Elemente"
• Teil 14-3: "Halbleitersensoren - Druck-Sensoren"

.

Weitere Teile, wie zum Beispiel der Teil 4-4: "Halbleiter-Beschleunigungsaufnehmer" und der Teil 14-5: "Halbleitersensoren - Halbleiter-Temperatursensoren mit PN-Übergang", befinden sich in Bearbeitung durch die WG 1 von IEC/SC 47E "Einzel-Halbleiterbauelemente".

Die WG 1 des IEC/SC 47E hat die Norm IEC 60747-14-1 sowohl textlich als auch technisch überarbeitet. Die wesentlichen Änderungen gegenüber der ersten Ausgabe sind wie folgt:

• Änderung des Titels von "Halbleitersensoren - Allgemeines und Klassifikation" in "Halbleitersensoren - Fachgrundspezifikation für Sensoren".
• Das bisherige Kapitel 3 ist nun sinnvollerweise in drei Teile aufgeteilt, und zwar in Kapitel 3 "Terminology, units, letter symbols, terms and definitions", Kapitel 4 "Standard environmental conditions" und Kapitel 5 "Marking".
• Einige Begriffe aus dem in Bearbeitung befindlichen Teil 14-5 wurden bereits hinzugefügt: Bias, Full scale output, Input full scale, Long term stability, Measurable temperature range, Operating temperature range, Precision, Temperature coefficient und Supply voltage range.
• Eine wesentliche technische Neuerung ist die Einfügung eines umfangreichen Kapitels 6 zu Qualifizierungsverfahren.
• Schließlich wurden noch eine Bibliographie zu Normen aus der Reihe IEC 60721 über "Klassifizierung von Umweltbedingungen" und ein Anhang zur Stichprobenentnahme aufgenommen.

Eine deutsche Übersetzung der Norm ist nicht vorgesehen.

Für die Norm ist national das DKE/UK 631.1 "Einzel-Halbleiterbauelemente" zuständig.