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IEC 60512-25-6:2004-05

Prüfverfahren - Teil 25-6: Prüfung 25f - Augendiagramm und Jitter

Englischer Titel
Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 25-6: Test 25f: Eye pattern and jitter
Ausgabedatum
2004-05
Originalsprachen
Englisch, Französisch
Seiten
44
Ausgabedatum
2004-05
Originalsprachen
Englisch, Französisch
Seiten
44

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