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EN 60749:1999-01
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren (IEC 60749:1996)
- Englischer Titel
- Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods (IEC 60749:1996)
- Ausgabedatum
- 1999-01
- Originalsprachen
- Englisch
- Ausgabedatum
- 1999-01
- Originalsprachen
- Englisch
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