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EN 60749-3:2002-08
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 3: Äußere Sichtprüfung (IEC 60749-3:2002)
- Englischer Titel
- Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination (IEC 60749-3:2002)
- Ausgabedatum
- 2002-08
- Originalsprachen
- Englisch
- Ausgabedatum
- 2002-08
- Originalsprachen
- Englisch
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