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Radioaktive Kontamination von Oberflächen kann durch Vergießen, Verspritzen oder durch Leckage von offenen Quellen entstehen oder durch Aufbrechen oder Verlust der Unversehrtheit von umschlossenen Quellen und kann gesundheitliche Schäden verursachen. Die Notwendigkeit einer effektiven Überwachung von Oberflächenkontaminationen wurde schon vor langer Zeit erkannt. Die Oberflächenkontamination wird in Einheiten der Aktivität je Flächeneinheit angegeben, der Größe, die üblicherweise verwendet wird, um Grenzwerte für die maximale Oberflächenkontamination anzugeben. Diese Grenzwerte basieren auf Strahlenschutzerwägungen und wurden aus den Grenzwerten für die effektive Dosis oder die Aktivitätszufuhr abgeleitet, die von der Internationalen Kommission für Strahlenschutz (ICRP) empfohlen wurden. Während sich staatliche Regelwerke auf die Oberflächenkontamination in Einheiten der Aktivität je Flächeneinheit beziehen, ist die Anzeige von Überwachungsmessgeräten direkt auf die Strahlung bezogen, die von der Oberfläche emittiert wird, und nicht auf die Aktivität, die auf oder innerhalb der Oberfläche enthalten ist. Aufgrund von Änderungen der Absorptions- und Streuungseigenschaften von realen Oberflächen kann im Allgemeinen nicht angenommen werden, dass es einen einfachen, bekannten Zusammenhang zwischen der Emissionsrate der Oberfläche und der Aktivität gibt. Daraus ergibt sich die Notwendigkeit für Kalibrierstrahler, die vorzugsweise sowohl in Einheiten der Oberflächenemissionsrate als auch der Aktivität spezifiziert sind. Diese Norm spezifiziert, rückverfolgbar auf nationale Messnormale, Eigenschaften von Referenzstrahlern für radioaktive Oberflächenkontamination zum Zweck der Kalibrierung von Oberflächenkontaminationsmonitoren, sowie für die Kalibrierung von Oberflächenkontaminationsmonitoren bevorzugte Bezugsstrahlungen. Sie gilt für Alpha-, Beta- und Photonenquellen mit maximalen Photonenenergien nicht größer als 1,5 MeV. Sie beschreibt jedoch nicht die Verfahren für die Anwendung dieser Referenzstrahler für die Kalibrierung von Oberflächenkontaminationsmonitoren. Derartige Verfahren sind in DIN EN 60325 (VDE 0493-2-1), DIN EN 62363 (VDE 0493-2-4) und anderen Dokumenten beschrieben.
Dieses Dokument ersetzt DIN ISO 8769:2016-08; VDE 0412-8769:2016-08 .
Dokument wurde ersetzt durch DIN EN ISO 8769:2023-09; VDE 0412-8769:2023-09 .
Gegenüber DIN ISO 8769 (VDE 0412-8769):2016-08 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) um die Konsistenz mit Begriffen zu wahren, die im Internationalen Vokabular der Metrologie oder in ISO/IEC 17025 definiert sind, wurden „Bezugsnormal“, „Gebrauchsnormal“ und „Transfermesseinrichtung“ anstelle von „Referenzstrahler“, „Arbeitsquelle“ und „Referenz-Transfermessgerät“ übernommen; b) die in 5.1 b) angesprochene Oberflächenschicht darf auch kleiner als die Sättigungsschichtdicke sein; c) in 5.2.3 und 5.3.3 wurde die Aussage „abzüglich seiner relativen Standardunsicherheit“ gestrichen; d) in 5.4.2 wurde eine Anforderung für die erneute Messung der Homogenität hinzugefügt; e) redaktionelle Bearbeitung.