DIN ISO 14997:2013-08

Diese Norm beschreibt die physikalischen Grundlagen und legt die praktische Vorgehensweise fest für die Realisierung von Verfahren zur Bestimmung von Oberflächenunvollkommenheiten. Die Verfahren bewerten die Bereiche der optischen Fläche, die abgeschattet oder beschädigt sind. Diese Norm wurde erstellt, in Antwort auf die Nachfrage nach Prüfverfahren für Oberflächenunvollkommenheiten, die objektiv sind und eine rasche Bewertung über die Qualität der Komponenten geben. Bereits bestehende Normen wurden geprüft und als zu unterschiedlich im Gebrauch befunden, um den aktuellen Bedürfnissen der optischen Industrie gerecht zu werden. Oberflächenunvollkommenheiten, wie beispielsweise Löcher (en: dig) und Kratzer (en: scratch) entstehen durch örtliche Beschädigung während oder nach der Herstellung. Sie können sichtbar werden als Lichtstreuung und den Eindruck von schlechter Qualität erwecken. Andernfalls kann dieses als ungewolltes Falschlicht (Streustrahlung) auf einer Bildebene auftauchen oder es kann zu einer Beeinträchtigung der Qualität des Signals bei einem Bildsensor führen. Die Oberflächenunvollkommenheiten können auch lokale Spannungen verursachen und schließlich auch zum Ausfall des Bauteils führen, wenn es beispielsweise hohen Laserstrahlung-Leistungs-(Energie-)dichten ausgesetzt ist. Da moderne Methoden der Oberflächenbewertung Auflösungen im Bereich atomarer Dimensionen ermöglichen, wird kaum eine Oberfläche gefunden, die ganz frei von örtlich begrenzten Unvollkommenheiten ist. Die meisten hergestellten Oberflächen sind ausreichend für ihren beabsichtigten Gebrauch, aber ein kleiner Anteil kann offensichtliche Schäden davon getragen haben und wird entweder überarbeitet oder als unakzeptabel betrachtet. Hier können einige Exemplare übrig bleiben, die trotz leichter Schäden, nach Prüfung immer noch akzeptabel sein können, abhängig von der Größe der Oberflächenunvollkommenheiten, die vom Kunden gefordert und in Zeichnungen, wie in ISO 10110-7, spezifiziert sind. Diese Internationale Norm beschreibt, wie die Verfahren angewendet werden. Diese internationale Norm der ISO 14997:2011 wurde vom ISO/TC 172 "Optics and photonics", Unterkomitee SC 1 "Fundamental standards", dessen Sekretariat vom DIN gehalten wird, erstellt. Im DIN ist hierfür der Arbeitsausschuss "Grundnormen für die Optik" im Normenausschuss Feinmechanik und Optik (NAFuO) zuständig.