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Norm [AKTUELL]
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Dieser Teil von DIN EN ISO 8503 legt die Anforderungen an das Lichtmikroskop fest und beschreibt das Verfahren zur Kalibrierung von ISO-Rauheitsvergleichsmustern, welche den Anforderungen nach ISO 8503-1 entsprechen. Die Norm ist auch zur Bestimmung der mittleren maximalen Rautiefe (durch Mikroskopie) im Bereich von 20 µm bis 200 µm von im Wesentlichen ebenen gestrahlten Stahloberflächen (Bauteilen) anwendbar. Die Bestimmung darf auf einem repräsentativen Teil der gestrahlten Oberfläche oder, wenn dies nicht möglich ist, auf einem Abdruck der Oberfläche durchgeführt werden. Gegebenenfalls darf dieses Verfahren auch zur Prüfung der Rauheit anderer gestrahlter Oberflächen angewendet werden. Ein alternatives Verfahren wird in ISO 8503-4 beschrieben. Die dieser Norm zugrundeliegende Internationale Norm wurde vom Technischen Komitee ISO/TC 35 "Paints and Varnishes" in Zusammenarbeit mit dem Technischen Komitee CEN/TC 139 "Lacke und Anstrichstoffe" erarbeitet, dessen Sekretariat vom DIN gehalten wird. Für diese Norm ist das Gremium NA 002-00-10-04 UA "Oberflächenvorbereitung und -prüfung" im DIN zuständig.
Dieses Dokument ersetzt DIN EN ISO 8503-3:1995-08 .
Gegenüber DIN EN ISO 8503-3:1995-08 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) der Text wurde redaktionell und technisch überarbeitet.