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Dieses Dokument legt die Aufnahme, Messung und Analyse von Transmissionselektronenmikroskopie-Bildern, um Partikelgrößen- und -formverteilungen im Nanobereich fest. Dieses Dokument ist im Großen und Ganzen sowohl auf Nano-Objekte als auch auf Partikel mit Größen größer als 100 nm anwendbar. Der genaue Arbeitsbereich der Methode hängt ab von der geforderten Unsicherheit und von der Leistungsfähigkeit des Übertragungselektronenmikroskops. Diese Elemente können gemäß den in diesem Dokument beschriebenen Anforderungen ausgewertet werden. Das zuständige nationale Gremium ist der Unterausschuss "Prüfverfahren" des Arbeitsausschusses NA 062-08-17 AA "Nanotechnologien" im DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP).
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