DIN EN ISO 2128:2010-12

Diese Norm legt ein zerstörungsfreies Verfahren zur Bestimmung der Dicke anodisch erzeugter Oxidschichten auf Aluminium und Aluminiumlegierungen unter Einsatz eines Lichtschnittmikroskops fest. Das Verfahren ist auf die meisten industriell anodisch erzeugten Oxidschichten über 10 µm oder bei glatten Oberflächen über 5 µm anwendbar. Die Anwendung des beschriebenen Verfahrens ist nur möglich, wenn die beiden in Abschnitt 3 beschriebenen Lichtbänder gut sichtbar und eindeutig voneinander getrennt sind, das heißt nicht bei opaken oder dunkel gefärbten Schichten.
Probleme können auch durch die Oberflächenrauheit auftreten. Beim Lichtschnittmikroskop fällt ein paralleler Lichtstrahl schräg auf die anodisch oxidierte Oberfläche, üblicherweise unter einem Einfallswinkel von 45°. Der Strahl wird teilweise an der Oberfläche der Oxidschicht und teilweise an der Grenzfläche zwischen Metall und Oxidschicht reflektiert, nachdem er sowohl beim Eintritt in die Oxidschicht als auch beim Austritt aus ihr gebrochen wurde. Am Okular entstehen zwei parallele Lichtbänder, deren Abstand proportional zur Dicke der Oxidschicht und zur Vergrößerung ist. Der Abstand hängt weiterhin von der Brechzahl des Werkstoffs der Oxidschicht sowie von der Geometrie des Gerätes ab. Wenn der Einfallswinkel und der Winkel zur optischen Achse der Objektivlinse des Lichtschnittmikroskops jeweils 45° betragen, ist die Schichtdicke nach Gleichung zu berechnen.
Die Internationale/Europäische Norm wurde unter Federführung der ISO/TC 79/SC 2/WG 16 "Überarbeitungen der planmäßig überprüften Normen von ISO/TC 79/SC 2" (Sekretariat: JISC, Japan) im Parallelverfahren mit der CEN/TC 132/WG 15 "Anodisch oxidiertes Aluminium" (Sekretariat: BSI, Vereinigtes Königreich) erstellt. National ist der Arbeitsausschuss NA 066-01-09 AA "Anodisch oxidiertes Aluminium" im FNNE zuständig.