DIN EN IEC 62311:2020-12

Diese Norm enthält die Deutsche Fassung der Europäischen EMF-Fachgrundnorm EN IEC 62311:2020 und ist identisch mit der zweiten Edition der Internationalen EMF-Fachgrundnorm IEC 62311 (Ausgabe 2019). Sie enthält Anforderungen zum Nachweis der Übereinstimmung von elektrischen und elektronischen Geräten beziehungsweise Einrichtungen mit Anforderungen zur Begrenzung der Exposition von Personen in elektromagnetischen Feldern im Frequenzbereich von 0 Hz bis 300 GHz, soweit für diese Geräte beziehungsweise Einrichtungen keine spezifischen Produkt- oder Produktfamiliennormen im Hinblick auf die Sicherheit von Personen in elektromagnetischen Feldern bestehen. Für Geräte beziehungsweise Einrichtungen, die eine niedrige Strahlungsleistung aufweisen, gilt die entsprechende EMF-Fachgrundnorm für Geräte kleiner Leistung, EN 62479, deren Deutsche Fassung als DIN EN 62479 (VDE 0848-479) veröffentlicht wurde. Gegenüber der vorhergehenden Ausgabe der vorliegenden Norm wurde im Anwendungsbereich (Abschnitt 1) eine klare Unterscheidung zwischen unbeabsichtigten Strahlungsquellen und Nutzsendern eingeführt. Diese Norm legt die in Frage kommenden Basisgrenzwerte und/oder Referenzwerte für den Schutz von Personen nicht selbst fest, da deren Festlegung einen Gegenstand des angewendeten Beurteilungsschemas beziehungsweise -verfahrens darstellen, zum Beispiel die Festlegung von regional gültigen Grenzwerten. Daher wird in ihm der neutrale Terminus Expositionsgrenzwerte verwendet. Die in der Norm festgelegten Bewertungsverfahren können sowohl auf die Exposition der Allgemeinbevölkerung als auch auf die berufliche Exposition angewendet werden. Neben den erforderlichen Begriffsdefinitionen und den Bewertungsverfahren für die Übereinstimmung des betrachteten Geräts mit den Anforderungen werden auch Festlegungen zum Prüfbericht und zur Produktdokumentation gegeben. Betrachtet werden sowohl einzelne Feldquellen als auch die Überlagerung von Feldern mehrerer Quellen, wobei die in der vorhergehenden Ausgabe der Norm im Abschnitt 8 enthaltenen Festlegungen zur Überlagerung von Feldern mehrerer Quellen nach den Verfahren von ICNIRP beziehungsweise von IEEE in einen informativen neuen Anhang A verschoben wurden, da sie nur als Information in dieser Norm enthalten sein sollten. Hierbei wurden auch Informationen zur Summierung bei nicht sinusförmigen Feldern aufgenommen. Hinsichtlich der Anwendbarkeit der in der Norm tabellarisch aufgelisteten Bewertungsverfahren werden als geeignet erachtete Konformitätskriterien spezifiziert. Vor Beginn der Bewertung kann eine Analyse durchgeführt werden, um zu untersuchen, welche Teile (eines Geräts) elektromagnetische Felder aussenden oder ob das Gerät inhärent konform, das heißt aufgrund seiner Beschaffenheit nicht in der Lage ist, für die Bewertung relevante Felder abzustrahlen. Bewertungen sollten entsprechend einer Grund- oder Produkt- beziehungsweise Produktfamiliennorm durchgeführt werden. Die entsprechenden Normen werden in dieser Norm in der neu aufgenommenen Tabelle 1 genannt. Die Unsicherheit der Ergebnisse der Bewertung wird ebenfalls in dieser Norm behandelt und Verfahren zur Ermittlung der gesamten Unsicherheit werden beschrieben. Schließlich wurden die bisherigen Anhänge A bis G gestrichen, da die in ihnen enthaltenen Informationen inzwischen in anderen Normen enthalten sind, wie sie in der vorliegenden Norm in der Tabelle 1 aufgeführt werden.