DIN EN IEC 61744:2023-12

Dieses Dokument legt Normverfahren für die Kalibrierung von Prüfaufbauten zur Bestimmung der chromatischen Dispersion von Lichtwellenleitern (CD-Prüfaufbauten) fest. Dieses Dokument ist für alle Arten von CD-Prüfaufbauten anwendbar mit der Ausnahme, dass Messungen an Mehrmoden-Lichtwellenleitern ausgeschlossen sind. Das Ziel dieses Dokumentes ist es, ein normiertes Verfahren für die Kalibrierung von Prüfaufbauten zur Bestimmung der chromatischen Dispersion von Lichtwellenleitern (CD-Prüfaufbauten) festzulegen. Die verwendeten einzelnen Kalibrierschritte variieren entsprechend der im CD-Prüfaufbau verwendeten Messtechnik. Obgleich anerkannt wird, dass die chromatische Dispersion auch in einer Mehrmodenfaser auftritt und diese Faser auf vielen CD-Prüfaufbauten gemessen werden kann, beschränkt sich dieses Dokument ausschließlich auf Messanwendungen von Einmodenfasern. Der Zweck der in diesem Dokument beschriebenen Verfahren ist es, die Aufmerksamkeit der Hersteller und Anwender von CD-Prüfaufbauten auf die Verringerung der Messunsicherheit bei der Bestimmung der chromatischen Dispersion in Lichtwellenleitern unter allen anwendbaren Bedingungen zu lenken. Die Verfahren gelten für Kalibrierlaboratorien sowie für Hersteller oder Anwender von CD-Prüfaufbauten zur a) Kalibrierung von CD-Prüfaufbauten, und b) Beurteilung des Leistungsniveaus des Messgeräts. Die Anwendung der Verfahren lässt auch die korrekte Bestimmung der Unsicherheit des CD-Prüfaufbaus in Bezug auf geeignete Normale (zum Beispiel nationale Normale) zu. Es gibt keine Einschränkungen im Anwendungsbereich des Dokuments. Gegenüber DIN EN 61744:2006-10 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) aktualisierte Begriffe; b) die Verwendung eines Referenzfasernormals für die Kalibrierung ist nun erlaubt und auf dem gleichen Niveau wie das andere Kalibrierverfahren; c) Anhang B wurde aufgeteilt in einen neuen Anhang B (über die Unsicherheit der Kalibrierung, weiterhin normativ) und einen neuen Anhang C (über die Unsicherheit bei Betriebsbedingungen, informativ); d) der frühere Unterabschnitt C.3.4 über das interferometrische Verfahren wurde entfernt, da dieses Verfahren in IEC 60793-1-42 nicht mehr länger unterstützt wird; e) Anhang D und weitere Verweisungen auf die Kalibrierkompensation im Text wurden entfernt, um eine Angleichung an andere Dokumente zur Kalibrierung zu erreichen; f) Anhang E und weitere Verweisungen auf die Wellenlänge in Luft im Text wurden entfernt, da dies im Bereich Fasern nicht verwendet wird. Die Norm erhöht durch ihre Anwendung die Investitionssicherheit für Hersteller und Anwender und gibt Prüflaboren und Herstellern definierte Angaben zur Prüfung und sichert Kompatibilität über Herstellergrenzen hinweg.