DIN EN 62321-4:2014-10

Die Internationale Normenreihe IEC 62321 stellt Prüfverfahren zur Verfügung, die es der elektrotechnischen Industrie ermöglichen, die Konzentration bestimmter bedenklicher Stoffe in elektrotechnischen Produkten auf einer weltweit einheitlichen Grundlage zu bestimmen. Dieser Teil 4 der Normenreihe beschreibt Prüfverfahren für Quecksilber in Polymeren, Metallen und Elektronik mit CV-AAS (Kaltdampf-Atomabsorptionsspektrometrie), CV-AFS (Kaltdampf-Atomfluoreszenzspektrometrie), ICP-OES (optische Emissionsspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma) und ICP-MS (Massenspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma). Die Analyse mit CV-AAS, CV-AFS, ICP-OES oder ICP-MS ermöglicht die Bestimmung des Zielelements Quecksilber mit hoher Präzision (mit sehr geringer Unsicherheit) und/oder hoher Empfindlichkeit (für sehr niedrige Konzentrationen). Neben der Darstellung der genannten Analysenverfahren werden in dieser Norm mehrere Verfahren für die Herstellung der Probenlösung beschrieben. Personen, die diese Internationale Norm anwenden, sollten mit der üblichen Laborpraxis vertraut sein. Diese Norm behandelt nicht alle mit der Normanwendung verbundenen Sicherheitsaspekte. Es liegt in der Verantwortung des Anwenders, die angemessenen Maßnahmen zur Sicherheit und zum Gesundheitsschutz zu treffen und die Einhaltung jeglicher nationaler gesetzlicher Bestimmungen sicherzustellen. Zuständig ist das DKE/K 135 "Erfassung von Stoffen in Produkten der Elektrotechnik" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE.