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Norm [AKTUELL]
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Dieser Teil der DIN EN 61788 beschreibt ein Messverfahren zur Bestimmung des Verhältnisses von Kupfervolumen zu kupferfreiem Volumen von Cu/Nb3Sn-Drähten. Das hier angegebene Messverfahren ist anzuwenden auf Nb3Sn-Verbundsupraleiterdrähte mit einer Querschnittsfläche von 0,1 mm2 bis 3 mm2 und einem Verhältnis von Kupfervolumen zu kupferfreiem Volumen von 0,1 und größer. Das Verfahren berücksichtigt nicht den Durchmesser der Filamente; jedoch ist es nicht anzuwenden auf supraleitende Drähte, in denen die Filamente, Sn, CuSn, Barrierenmaterial, sowie andere Nicht-Kupfer-Anteile in der Kupfermatrix verteilt sind, oder auf solche mit verteiltem Stabilisierungsmaterial. Außerdem kann das Verhältnis von Kupfervolumen zu kupferfreiem Volumen an den Drahtproben vor oder nach der Wärmebehandlung zur Ausbildung der Nb3Sn-Phase bestimmt werden. Der Cu/Nb3Sn-Draht hat eine monolithische Struktur mit rundem oder rechteckigem Querschnitt. Dieses Verfahren kann, obwohl sich die Messunsicherheit erhöht, angewandt werden zur Messung des Verhältnisses von Kupfervolumen zu kupferfreiem Volumen von Cu/Nb3Sn-Drähten, deren Querschnitt und Verhältnis von Kupfervolumen zu kupferfreiem Volumen außerhalb der spezifizierten Bereiche liegen. Dieses Messverfahren kann, mit entsprechenden Modifikationen, für andere Verbundsupraleiterdrähte angewandt werden. Zuständig ist das DKE/K 184 "Supraleiter" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE.
Dieses Dokument ersetzt DIN EN 61788-12:2003-05; VDE 0390-12:2003-05 .
Gegenüber DIN EN 61788-12 (VDE 0390-12):2003-05 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) einzelne Abschnitte wurden überarbeitet und erweitert; b) Abschnitt 6.1 wurde überarbeitet; c) der früher informative Anhang C wurde überarbeitet und hat jetzt normativen Charakter; d) die Schreibweise der Einheiten wurde vereinheitlicht; e) die Symbole zu den Berechnungen wurden in den Gleichungen und im Text korrigiert und vereinheitlicht; f) die Ergebnisse der Berechnungen wurden korrigiert; g) ein Anhang zu Messunsicherheitsbetrachtungen wurde hinzugefügt; h) ein Anhang zur Bestimmung der Messunsicherheit im Prüfverfahren des Verhältnisses von Kupfervolumen zu kupferfreiem Volumen bei Nb3Sn-Verbundsupraleiterdrähten wurde hinzugefügt.