DIN EN 61000-4-20:2003-10

In der Norm sind die Messung der Störaussendung und die Prüfung der Störfestigkeit von elektrischen und elektronischen Geräten (Einrichtungen) in transversal-elektromagnetischen (TEM-)Wellenleitern in Bezug auf hochfrequente elektromagnetische Felder (Anhänge A und B der Norm) beschrieben, wobei die Prüfung der Störfestigkeit gegen den in großer Höhe erzeugten elektromagnetischen Puls (HEMP) (Anhang C) ebenfalls möglich ist.
(TEM-)Wellenleiter enthalten offene Strukturen (z. B. Streifenleiter und EMP-Simulatoren) und geschlossene Strukturen (z. B. TEM-Zellen), die in Ein-, Zwei- oder Vieltor-TEM-Wellenleiter unterteilt werden können.
Eine Charakterisierung von TEM-Wellenleitern ist im Anhang D wiedergegeben.
Der Frequenzbereich hängt von den speziellen Prüfanforderungen und dem speziellen Typ des TEM-Wellenleiters ab (u. a. im Bereich 30 MHz bis 1 000 MHz bzw. bei GTEM-Zellen bis hinein in den GHz-Bereich). Hierzu sind in der Norm die Eigenschaften von TEM-Wellenleitern einschließlich der typischen Frequenzbereiche und Anwendungsgrenzen für den Prüfling (bezüglich seiner Abmessungen sowie der Tatsache, dass keine Leitungen angeschlossen sein dürfen) beschrieben und Verfahren zur Eignungsprüfung von TEM-Wellenleitern festgelegt, die bei EMV-Messungen eingesetzt werden.
Des Weiteren wird die mit der Messung in TEM-Wellenleitern verbundene Messunsicherheit betrachtet. Für die Durchführung der Messung werden Messaufbauten, Messverfahren und Messanforderungen für Messungen der gestrahlten Störgrößen in TEM-Wellenleitern bzw. Prüfungen der Störfestigkeit gegen gestrahlte Störgrößen in TEM-Wellenleitern festgelegt.
Für die Norm ist das UK 767.4 "Geräte und Verfahren zum Messen von elektromagnetischen Aussendungen" zuständig. Das UK 767.3 "Hochfrequente Störgrößen" wurde bei der Arbeit an diesem Normungsvorhaben mit einbezogen.