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Norm [ZURÜCKGEZOGEN]
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Die IEC 60825-1 bezweckt die Einführung eines Klassifizierungssystems für Laser und Lasereinrichtungen entsprechend dem Grad der von ihnen ausgehenden Gefährdung durch optische Strahlung und Hilfe bei der Festlegung von Kontrollmaßnahmen durch den Benutzer. Sie legt Anforderungen an den Hersteller fest, um Angaben zu liefern, damit angemessene Vorsichtsmaßnahmen ergriffen werden können. Durch Anwendung der Norm soll eine angemessene Warnung von Personen durch Zeichen, Aufschriften und Anweisungen über die Gefährdungen, die mit der zugänglichen Strahlung von Lasereinrichtungen verbunden sind, sichergestellt werden. Die Norm soll die Herabsetzung der Verletzungsmöglichkeiten durch Verringerung von unnötiger zugänglicher Strahlung und durch verbesserte Kontrolle der Gefährdung durch Laserstrahlung mithilfe von Schutzvorrichtungen bewirken. Zuständig ist das DKE/GK 841 "Optische Strahlungssicherheit und Lasereinrichtungen" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE.
Dieses Dokument ersetzt DIN EN 60825-1 Berichtigung 1:2008-12; VDE 0837-1 Berichtigung 1:2008-12 , DIN EN 60825-1 Berichtigung 2:2009-02; VDE 0837-1 Berichtigung 2:2009-02 , DIN EN 60825-1:2008-05; VDE 0837-1:2008-05 .
Dokument wurde ersetzt durch DIN EN 60825-1:2022-07; VDE 0837-1:2022-07 .
Dieser Artikel wurde berichtigt durch: DIN EN 60825-1 Berichtigung 1:2018-11; VDE 0837-1 Berichtigung 1:2018-11 .
Gegenüber DIN EN 60825-1 (VDE 0837-1):2008-05, DIN EN 60825-1 Berichtigung 1 (VDE 0837-1 Berichtigung 1):2008-12 und DIN EN 60825-1 Berichtigung 2 (VDE 0837-1 Berichtigung 2):2009-02 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) Die gesamte Struktur der Norm wurde umgestellt, um eine, nach Auffassung des TCs, bessere schrittweise Vorgehensweise bei der Anwendung zu ermöglichen. b) Messbedingung 2 (Mikroskope und Lupen) wurde entfernt mit Hinweis auf handelsübliche Vergrößerungsgeräte (werden mit Bedingung 1 bereits abgedeckt) und den anwendungsspezifischen Teil 60825 2 der Norm für LWLKS, wo tatsächlich Mikroskope im Zusammenhang mit Lasern benutzt werden. c) Eine Klasse 1C inkl. entsprechender technischer Anforderungen wurde neu eingeführt, insbesondere für bereits vorhandene Geräte zur kosmetischen/therapeutischen Laserbehandlung der Haut. d) Die Grenzwerte, Messverfahren und insbesondere die Vorgehensweisen bei der Bewertung gepulster Quellen wurden an einigen Stellen dem aktuellen Stand der betreffenden neu überarbeiteten ICNIRP-"Guidelines" angepasst.