DIN EN 60749-27:2007-01

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Machine Model (MM) (IEC 60749-27:2006); Deutsche Fassung EN 60749-27:2006

Englischer Titel: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM) (IEC 60749-27:2006); German version EN 60749-27:2006
Ausgabedatum: 2007-01
Originalsprachen: Deutsch
Seiten: 15

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