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Norm [ZURÜCKGEZOGEN]

DIN EN 60747-5-3:2002-04

VDE 0884-3:2002-04

Einzel-Halbleiterbauelemente und integrierte Schaltungen - Teil 5-3: Optoelektronische Bauelemente; Messverfahren (IEC 60747-5-3:1997); Deutsche Fassung EN 60747-5-3:2001

Englischer Titel
Discrete semiconductor devices and integrated circuits - Part 5-3: Optoelectronic devices - Measuring methods (IEC 60747-5-3:1997); German version EN 60747-5-3:2001
Ausgabedatum
2002-04
Originalsprachen
Deutsch
Seiten
34

77,18 EUR inkl. MwSt.

72,13 EUR exkl. MwSt.

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Ausgabedatum
2002-04
Originalsprachen
Deutsch
Seiten
34

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Dieses Dokument ersetzt DIN IEC 60747-5:1988-12 , DIN VDE 0884:1987-08 .

Dokument wurde ersetzt durch DIN EN 60747-5-3:2003-01; VDE 0884-3:2003-01 .

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