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Norm [AKTUELL]

DIN EN 60747-16-1:2017-10

Halbleiterbauelemente - Teil 16-1: Integrierte Mikrowellen-Verstärker (IEC 60747-16-1:2001 + A1:2007 + A2:2017); Deutsche Fassung EN 60747-16-1:2002 + A1:2007 + A2:2017

Englischer Titel
Semiconductor devices - Part 16-1: Microwave integrated circuits - Amplifiers (IEC 60747-16-1:2001 - A1:2007 - A2:2017); German version EN 60747-16-1:2002 + A1:2007 + A2:2017
Ausgabedatum
2017-10
Originalsprachen
Deutsch
Seiten
63

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Ausgabedatum
2017-10
Originalsprachen
Deutsch
Seiten
63
DOI
https://dx.doi.org/10.31030/2694256

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Einführungsbeitrag

Der vorliegende Teil von IEC 60747 enthält die Terminologie, wesentliche Bemessungs- und Kennwerte sowie Messverfahren für integrierte Mikrowellen-Leistungsverstärker. Gegenüber der DIN EN 60747-16-1: 2007 wurden die nachfolgenden Abschnitte geändert beziehungsweise überarbeitet: - 3 Begriffe; - 5.7 Ausgangsleistungsbegrenzung und Linearitätsabweichung der Ausgangsleistungsbegrenzung; - 5.11 Intermodulationsverzerrung (Zweiton); - 5.18 Leistungsbezogener Wirkungsgrad; - 5.19 Verhältnis der Oberschwingungsverzerrung n-ter Ordnung; - 5.21 Störstärke bei festgelegtem Belastungs-Spannungsstehwellenverhältnis; - 5.22 Leistungsverhältnis benachbarter Kanäle. Zuständig ist das DKE/UK 631.1 "Einzel-Halbleiterbauelemente" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE.

ICS
31.080.99
DOI
https://dx.doi.org/10.31030/2694256
Ersatzvermerk

Dieses Dokument ersetzt DIN EN 60747-16-1:2007-10 .

Änderungsvermerk

Gegenüber DIN EN 60747-16-1:2007-10 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) 3 Begriffe; b) 5.7 Ausgangsleistungsbegrenzung und Linearitätsabweichung der Ausgangsleistungsbegrenzung; c) 5.11 Intermodulationsverzerrung (Zweiton); d) 5.18 Leistungsbezogener Wirkungsgrad; e) 5.19 Verhältnis der Oberschwingungsverzerrung n-ter Ordnung; f) 5.21 Störstärke bei festgelegtem Belastungs-Spannungsstehwellenverhältnis; g) 5.22 Leistungsverhältnis benachbarter Kanäle.

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