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DIN EN 60444-6:2014-02

Messung von Schwingquarz-Parametern - Teil 6: Messung der Belastungsabhängigkeit (DLD) (IEC 60444-6:2013); Deutsche Fassung EN 60444-6:2013

Englischer Titel
Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 6: Measurement of drive level dependence (DLD) (IEC 60444-6:2013); German version EN 60444-6:2013
Ausgabedatum
2014-02
Originalsprachen
Deutsch
Seiten
21

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Ausgabedatum
2014-02
Originalsprachen
Deutsch
Seiten
21
DOI
https://dx.doi.org/10.31030/2073918

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Einführungsbeitrag

Dieser Teil der IEC 60444 gilt für die Messung der Belastungsabhängigkeit (en: drive level dependence - DLD) von Schwingquarzen. Zwei Prüfverfahren (A und C) und ein Referenzverfahren (B) werden beschrieben. Verfahren A basiert auf dem Verfahren nach IEC 60444-1, die im gesamten Frequenzbereich, für den dieser Teil der IEC 60444 zutrifft, eingesetzt werden kann. Referenzverfahren B basiert auf dem Verfahren nach IEC 60444-1, IEC 60444-5 oder IEC 60444-8 und kann im gesamten Frequenzbereich eingesetzt werden, für den dieser Teil von IEC 60444 zutrifft. Verfahren C ist ein Oszillatorverfahren, das besonders für die Messung von Grundton-Schwingquarzen in größerer Stückzahl mit festen Messbedingungen geeignet ist. Die Belastung (ausgedrückt als Leistung/Spannung über dem oder Strom durch den Schwingquarz) veranlasst den Resonator wegen des piezoelektrischen Effekts zu mechanischen Schwingungen. Dabei wird die Beschleunigungsarbeit in kinetische und elastische Energie umgewandelt und der Leistungsverlust in Wärme. Letzteres ist durch die innere und äußere Reibung des Schwingquarz-Resonators bedingt. Die Reibungsverluste hängen von der Geschwindigkeit der schwingenden Massen ab und nehmen zu, wenn die Schwingung nicht mehr linear ist oder wenn kritische Geschwindigkeiten, Dehnungen oder andere verformende Spannungen, Auslenkungen oder Beschleunigungen im Resonator oder an seinen Oberflächen oder Befestigungspunkten auftreten. Diese verursachen Widerstands- und Frequenzänderungen und auch weitere Veränderungen, die durch die Temperaturabhängigkeit dieser Parameter bedingt sind. Bei "hohen" Belastungen (zum Beispiel über 1 mW oder 1 mA für AT-Schnitt-Schwingquarze) werden bei allen Schwingquarzen Änderungen beobachtet, die auch zu irreversiblen Amplituden- und Frequenzänderungen führen können. Jede weitere Zunahme der Belastung kann den Resonator zerstören. Außer diesem Effekt werden Frequenz- und Widerstandsänderungen bei "niedrigen" Belastungen bei einigen Schwingquarzen beobachtet (zum Beispiel unter 1 mW oder 50 µA bei AT-Schnitt-Schwingquarzen). In diesem Fall wird der Einsatz der Schwingung verhindert, wenn die Verstärkung in der Rückkopplungsschleife nicht ausreicht. In Schwingquarzfiltern ändern sich Dämpfung und Welligkeit des Übertragungssystems. Auch hängt die Kopplung zwischen einem vorgeschriebenen Schwingungsmodus und anderen Moden (das heißt dem Resonator selbst, der Befestigung und dem Füllgas) von der Belastung ab. Bedingt durch das unterschiedliche Temperaturverhalten dieser Moden führen diese Kopplungen innerhalb enger Temperaturbereiche zu Frequenz- und Widerstandsänderungen des angegebenen Modus. Diese Änderungen nehmen mit größer werdender Belastung zu. Dieser Effekt wird jedoch im Folgenden in diesem Teil der IEC 60444 nicht weiter betrachtet. Die erste Ausgabe der IEC 60444-6 wurde 1995 veröffentlicht. Bis heute aber wurde sie nicht überarbeitet. In der Zwischenzeit hat die Forderung nach einer genaueren Festlegung und Messung der Belastungsabhängigkeit (DLD) zugenommen. In dieser neuen Ausgabe wird der in IEC 60444-6:1995 verwendete Begriff 'Belastungsabhängigkeit' beibehalten. Seine Definition aber wurde an die strengen Anforderungen seitens der Kunden angepasst. Außerdem werden die auf der Sitzung in Stanford im Juni 2011 getroffenen Festlegungen berücksichtigt. Gegenüber der vorherigen Ausgabe wurden die folgenden wesentlichen technischen Änderungen vorgenommen. Das DLD-Messverfahen mit Oszillatorschaltung wurde in Anhang B verschoben und das Referenzmessverfahren mit mehreren Belastungspegeln wurde aufgenommen. Zuständig ist das DKE/K 642 "Piezoelektrische Bauteile zur Frequenzstabilisierung und -selektion" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE.

ICS
31.140
DOI
https://dx.doi.org/10.31030/2073918
Ersatzvermerk

Dieses Dokument ersetzt DIN EN 60444-6:1997-10 .

Dokument wurde ersetzt durch DIN EN IEC 60444-6:2023-11 .

Änderungsvermerk

Gegenüber DIN EN 60444-6:1997-10 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) Alle Abschnitte wurden unter Berücksichtigung des gesamten Inhalts der vorherigen Ausgabe entsprechend den aktuellen Anforderungen an Form und Gestaltung überarbeitet. b) Das DLD-Messverfahen mit Oszillatorschaltung wurde in Anhang B verschoben. c) Das Referenzmessverfahren mit mehreren Belastungspegeln wurde aufgenommen.

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