DIN EN 60444-2:1997-10

Messung von Schwingquarz-Parametern nach dem Null-Phasenverfahren in einem Pi-Netzwerk - Teil 2: Messung der dynamischen Kapazität von Schwingquarzen nach dem Phasenoffsetverfahren (IEC 60444-2:1980); Deutsche Fassung EN 60444-2:1997

Englischer Titel: Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a pi-network - Part 2: Phase offset method for measurement of motional capacitance of quartz crystal units (IEC 60444-2:1980); German version EN 60444-2:1997
Ausgabedatum: 1997-10
Originalsprachen: Deutsch
Seiten: 10

ab 58,30 EUR inkl. MwSt.

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ICS

31.140

DOI

https://dx.doi.org/10.31030/7400982

Ersatzvermerk

Dieses Dokument ersetzt DIN IEC 60444-2:1992-11 .

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