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Norm [AKTUELL]
DIN 58172-1:2007-07
Prüfung von optischen Systemen - Teil 1: Symmetrieabweichungen
- Englischer Titel
- Testing of optical systems - Part 1: Deviations from symmetry
- Ausgabedatum
- 2007-07
- Originalsprachen
- Deutsch
- Seiten
- 7
- Ausgabedatum
- 2007-07
- Originalsprachen
- Deutsch
- Seiten
- 7
- DOI
- https://dx.doi.org/10.31030/9845242
Produktinformationen auf dieser Seite:
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Inhaltsverzeichnis
ICS
37.020
DOI
https://dx.doi.org/10.31030/9845242
Ersatzvermerk
Dieses Dokument ersetzt DIN 58172-1:1982-10 .
Änderungsvermerk
Gegenüber DIN 58172-1:1982 10 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) Abschnitt 3 der Ausgabe 1982 (Bezeichnung des Verfahrens) wurde ersatzlos gestrichen; b) Abschnitt 4 der Ausgabe 1982 (Systeme mit ausgedehntem Bildfeld) wurde an DIN ISO 9334 und DIN ISO 9335 angepasst; c) Beschreibung des Interferometers und der interferometrischen Messung wurde gestrichen bzw. durch Verweisung auf ISO 14999-4 ersetzt.
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