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Norm [ZURÜCKGEZOGEN]

DIN 50950:1984-10

Messung von Schichtdicken; Mikroskopische Messung der Schichtdicke; Querschliff-Verfahren

Englischer Titel
Measurement of coating thickness; microscopic measurement of coating thickness; cross section method
Ausgabedatum
1984-10
Originalsprachen
Deutsch
Seiten
4

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ab 32,34 EUR exkl. MwSt.

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Ausgabedatum
1984-10
Originalsprachen
Deutsch
Seiten
4

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Dokument wurde ersetzt durch DIN EN ISO 1463:1995-01 , DIN EN ISO 1463:2004-08 .

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