Wir sind telefonisch für Sie erreichbar!
Montag bis Freitag von 08:00 bis 15:00 Uhr
DIN Media Kundenservice
Telefon +49 30 58885700-70
Norm [AKTUELL]
DIN 50455-2:1999-11
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Verfahren zur Charakterisierung von Fotolacken - Teil 2: Bestimmung der Lichtempfindlichkeit von Positiv-Fotolacken
- Englischer Titel
- Testing of materials for semiconductor technology - Methods for the characterisation photoresists - Part 2: Determination of photosensitivity of positive photoresists
- Ausgabedatum
- 1999-11
- Originalsprachen
- Deutsch
- Seiten
- 4
- Ausgabedatum
- 1999-11
- Originalsprachen
- Deutsch
- Seiten
- 4
- DOI
- https://dx.doi.org/10.31030/8130649
Produktinformationen auf dieser Seite:
Schnelle Zustellung per Download oder Versand
Sicherer Kauf mit Kreditkarte oder auf Rechnung
Jederzeit verschlüsselte Datenübertragung
Lade Empfehlungen...
Lade Empfehlungen...