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Norm [AKTUELL]

ASTM F 980:2016

Messung der schnellen Ausheilung von neutroneninduzierten Verschiebungsschäden in Siliciumhalbleitergeräten, metrisch

Englischer Titel
Standard Guide for Measurement of Rapid Annealing of Neutron-Induced Displacement Damage in Silicon Semiconductor Devices
Ausgabedatum
2016 reapproved: 2024
Originalsprachen
Englisch
Seiten
7

ab 73,80 EUR inkl. MwSt.

ab 68,97 EUR exkl. MwSt.

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Ausgabedatum
2016 reapproved: 2024
Originalsprachen
Englisch
Seiten
7
DOI
https://dx.doi.org/10.1520/F0980-16R24

Produktinformationen auf dieser Seite:

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ICS
29.045
DOI
https://dx.doi.org/10.1520/F0980-16R24
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