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Norm-Entwurf

ISO/DIS 17297:2024-01 - Entwurf

Mikrobereichsanalyse – TEM-Probenvorbereitung mittels fokussierter Ionenstrahlen - Fachwörterverzeichnis

Englischer Titel
Microbeam analysis - Focused ion beam application for TEM specimen preparation - Vocabulary
Ausgabedatum
2024-01
Originalsprachen
Englisch
Seiten
27

ab 70,10 EUR inkl. MwSt.

ab 65,51 EUR exkl. MwSt.

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2024-01
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Englisch
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27

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