DIN ISO 14997:2016-08 - Entwurf

Dieser internationale Norm-Entwurf legt die physikalischen Grundlagen und praktische Mittel für die Verfahren zur Messung von Oberflächenunvollkommenheiten fest. Für mit dem Sichtbarkeitsverfahren spezifizierte Unvollkommenheiten werden zwei Prüfmethoden beschrieben. Die erste ist die visuelle Beurteilung der Oberfläche ohne jegliches Vergleichsnormal (IV). Die zweite ist die visuelle Beurteilung einer Oberflächenunvollkommenheit im Vergleich zu einem Artefakt mit bekannter Helligkeit (IS). Für mit dem Maßverfahren spezifizierte Unvollkommenheiten werden drei Methoden beschrieben. Die erste ist die visuelle Beurteilung der Oberfläche ohne jegliches Vergleichsnormal (IV). Die zweite ist die Maßbeurteilung einer Oberflächenunvollkommenheit im Vergleich zu einem Artefakt mit bekannter Größe (IS). Die dritte ist die Messung einer Oberflächenunvollkommenheit mit Vergrößerung und entweder einem Vergleichsartefakt mit bekannter Größe oder einer Strichplatte beziehungsweise einem Lineal (IM). Es sind Instrumente verfügbar, die eine objektive Messung der Helligkeit (Digital-Scatterometrie) oder der Größe (Digital-Mikroskopie) ermöglichen. Obwohl diese Instrumente für die Beurteilung von Oberflächenunvollkommenheiten zulässig sind, liegen sie außerhalb des Anwendungsbereiches dieses Norm-Entwurfes. Dieser Norm-Entwurf ist auf optische Oberflächen von Bauteilen oder Baugruppen wie Objektive mit zwei oder drei Linsen anwendbar. Auf optische Bauteile aus Kunststoff sollte dieser Norm-Entwurf mit Vorsicht angewendet werden. Beschädigungen von Kunststoffmaterialien durch Stöße unterscheiden sich optisch häufig stark von denen in härteren Materialien, da durch diese nicht immer Material entfernt wird sondern durch Materialverdrängung Wellen in der Oberfläche entstehen können. In der Folge können optische Vergleiche von Kratzern und Löchern in Kunststoffen mit ähnlichen Beschädigungen in Glas oder kristallinen Materialien zu sehr unterschiedlichen Ergebnissen führen. Für die Erarbeitung dieses Norm-Entwurfes ist der DIN-Normenausschuss Feinmechanik und Optik (NAFuO), Arbeitsausschuss NA 027-01-02 AA Grundnormen für die Optik, Arbeitskreis Messverfahren für die Optik, zuständig.