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Norm-Entwurf

DIN EN 1518:2024-12 - Entwurf

Zerstörungsfreie Prüfung - Dichtheitsprüfung - Charakterisierung von massenspektrometrischen Leckdetektoren; Deutsche und Englische Fassung prEN 1518:2024

Englischer Titel
Non-destructive testing - Leak testing - Characterization of mass spectrometer leak detectors; German and English version prEN 1518:2024
Erscheinungsdatum
2024-11-15
Ausgabedatum
2024-12
Originalsprachen
Deutsch, Englisch
Seiten
50

ab 91,80 EUR inkl. MwSt.

ab 85,79 EUR exkl. MwSt.

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Erscheinungsdatum
2024-11-15
Ausgabedatum
2024-12
Originalsprachen
Deutsch, Englisch
Seiten
50
DOI
https://dx.doi.org/10.31030/3576955

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Einführungsbeitrag

Dieses Dokument legt Begriffe und Verfahren für die Charakterisierung von massenspektrometrischen Leckdetektoren (MSLD) fest. Es soll kein kompletter Satz von Spezifikationen für einen Abnahmetest angegeben werden, sondern es werden Vorgehensweisen beschrieben, die ohne spezielle Kalibrierausrüstung angewendet werden können. Die in diesem Dokument beschriebenen Methoden sind ohne Einschränkungen auf Helium als Prüfgas anwendbar. Für andere Gase können zusätzliche Vorsichtsmaßnahmen notwendig sein. Die hier beschriebenen Methoden sind auf allgemein erhältliche MSLD des heutigen Standes der Technik anwendbar, die Leckageraten bis herab zu 10-12 Pa·m3/s messen können. Das zuständige nationale Normungsgremium ist der Arbeitsausschuss NA 062-11-15 AA "Dichtheitsprüfung" im DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP).

Inhaltsverzeichnis
ICS
19.100
DOI
https://dx.doi.org/10.31030/3576955
Ersatzvermerk
Änderungsvermerk

Gegenüber DIN EN 1518:2019-06 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) die normativen Verweisungen wurden aktualisiert; b) Abschnitt "Begriffe" wurde überarbeitet; c) 4.1, Allgemeines, wurde neu hinzugefügt; d) 5.2 wurde aktualisiert; e) in 6.1 wurde die Umgebungstemperatur angepasst; f) Abschnitt 7 und Abschnitt 8 wurden überarbeitet; g) der Prüfbericht wurde überarbeitet; h) die Bilder wurden in den Text integriert; i) Dokument wurde redaktionell überabeitet.

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