Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: standard reliability testing methods of non-volatile memory devices
German title
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 41: Standardisierte Prüfverfahren für die Zuverlässigkeit von nichtflüchtigen Speicher-Bauelementen
Publication date
2020-09-04
Original language
French
Pages
29
Publication date
2020-09-04
Original language
French
Pages
29
Product information on this site:
Quick delivery via download or delivery service
Buy securely with a credit card or pay upon receipt of invoice